동신화인텍 심볼 로고

동신화인텍
로그인 회원가입
  • APPLICATIONS
  • LAB
  • APPLICATIONS

    홈페이지를 방문해주셔서 감사합니다.

    LAB

    X-Ray 분석장비의 종류

    XRD(X-Ray Diffractometer), XRF(X-Ray Fluorescence Spectrometry), XPS(X-Ray Photoelectron Spectroscopy)

    X-Ray 분석장비의 원리

    X-Ray 선이 어떤 각도로 결정표면에 입사되어 표면의 결정 내 원자층에 의해 산란되어 회절상을 얻게 되고, X선 회절상으로부터 재료의 결정구조 확인 및 정성분석이 가능하다. 엑스선의 파장과 강도를 이용하여 미지 시료에 대한 정성 및 정량 분석이 가능 원소별로 4Be에서 92U까지 100%에서 ppm까지 분석이 가능하다.
    X-Ray를 입사할 때 나오는 광전자를 분석하며, 주로 시료 내부의 원자 Core Level에서 방출되는 전자를 분석하여 시료에 있는 원소의 종류, 화학상태, 농도 등을 분석하는 장비이다.

    X-Ray 분석장비의 응용분야

    - 물리, 화학, 나노테크놀로지, 철강, 제약, 석유화학, 시멘트, 지질 등의 재료 분석
    - 미지 시료 표면의 원소 정량분석, 화학 상태 분석
    - 유기물, 반도체, 금속의 전자구조 해석
    - 각종 공장(금속, 석유, 고분자화합물, 유리, 요업재료, 도금층분석), RoHS, ELV, WEEE와 같은 품질보증을 위한 분석, 신제품 및 신공정 개발등에 사용되고 있습니다.

    X-Ray 분석장비 이미지 Chiller 적용 이미지
    X-Ray 분석장비 이미지
    Chiller 적용 이미지
    Chiller 필요성과

    X-Ray를 발생시키기 위하여 공급되는 전기에너지를 X-Ray로 완전한 변환은 불가능하며 변환과정에서 많은 양의 열에너지로 변환되며 이 열에너지를 해소시키지 못할 경우 내부의 부품들의 파손 및 정상적인 측정이 불가능하다. 그래서 열에너지를 해소하기 위한 냉각수순환장치가 필요하다.

    냉각수 순환장치를 설치하여 내부 온도 안정성을 높여 높은 효율의 분석 및 화합물의 결정구조 변경이 안되게 하는 안정성이 필요하며 X-Ray 분석장비를 주로 사용 되고 있는 학교 및 연구실 경우 저소음, 저진동의 Chiller가 필요하며, 동신화인텍에서 대응이 가능하다.

    X-Ray를 발생시키기 위하여 공급되는 전기에너지를 X-Ray로 완전한 변환은 불가능하며 변환과정에서 많은 양의 열에너지로 변환되며 이 열에너지를 해소시키지 못할 경우 내부의 부품들의 파손 및 정상적인 측정이 불가능하다. 그래서 열에너지를 해소하기 위한 냉각수순환장치가 필요하다.

    냉각수 순환장치를 설치하여 내부 온도 안정성을 높여 높은 효율의 분석 및 화합물의 결정구조 변경이 안되게 하는 안정성이 필요하다.

    X-Ray 분석장비 대응 Chiller Model
    XRD 600w DS-3 DS-3
    3Kw DX-20 DW-20
    6Kw DX-50 DW-50
    9Kw DX-50 DW-50
    12Kw DX-75 DW-75
    18Kw DX-75 DW-75
    XRF 4Kw DX-30 DW-30
    XPS XPS DS-5
    전자 현미경(Electron Microscopy)
    X-Ray 분석장비의 종류

    FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopee), TEM(Field Emission Transmission Electron Microscope), FIB(Focused Ion Beam)

    전자 현미경의 원리 및 특성
    종류 원리 및 특성
    FE-SEM
    (Field Emission Scanning Electron Microscopee)
    사용하는 광원인 전자선을 이용하여 물체의 확대상을 만드는 분석장비이다. 전자선을 조사하게 되면 서로 충돌하여, 시료 내부에 있던 전자들이 외부로 튀어나오게 되는데 외부로 튀어나온 수많은 전자 중 이차전자의 신호를 이용하여 분석하고자 하는 시료의 이미지를 형상화하며, 이를 분석하여 이미지로 볼수 있는 분석장비이다.
    TEM
    (Field Emission Transmission Electron Microscope)
    - 초저온상태에서 전자빔을 이용하여 Bio 시료 및 연성재료의 내부 구조 분석
    - Single Particle Analysis를 통한 단백질 구조 분석
    FIB
    (Focused Ion Beam)
    고분해능 전자이미지, 이온이미지, 고 해상도 단면 측정이 가능하다.
    종류 원리 및 특성
    FE-SEM
    (Field Emission Scanning Electron Microscopee)
    사용하는 광원인 전자선을 이용하여 물체의 확대상을 만드는 분석장비이다. 전자선을 조사하게 되면 서로 충돌하여, 시료 내부에 있던 전자들이 외부로 튀어나오게 되는데 외부로 튀어나온 수많은 전자 중 이차전자의 신호를 이용하여 분석하고자 하는 시료의 이미지를 형상화하며, 이를 분석하여 이미지로 볼수 있는 분석장비이다.
    TEM
    (Field Emission Transmission Electron Microscope)
    - 초저온상태에서 전자빔을 이용하여 Bio 시료 및 연성재료의 내부 구조 분석
    - Single Particle Analysis를 통한 단백질 구조 분석
    FIB
    (Focused Ion Beam)
    고분해능 전자이미지, 이온이미지, 고 해상도 단면 측정이 가능하다.
    전자 현미경의 응용분야
    종류 응용분야
    FE-SEM
    (Field Emission Scanning Electron Microscopee)
    - 금소 재료 분야 : 금속 및 세라믹의 표면 관찰 및 성분 분석, 결정 분포 측정
    - 화학 분야 : 고분자의 형태와 크기, 표면 형상 관찰
    TEM
    (Field Emission Transmission Electron Microscope)
    생태학, 생물학, 의한, 면역학, 고분자시료 및 시료의 단면 초미세구조, 생물시료의 미세 세포 측정
    FIB
    (Focused Ion Beam)
    - 각종 재료물질의 단면층 시편제작(Cross-section) 및 이미지 관찰, 조성성분 분석
    - 각종 시편의 표면연마 및 EDS에 의한 조성성분 분석(정성, 정량분석)
    종류 응용분야
    FE-SEM
    (Field Emission Scanning Electron Microscopee)
    - 금소 재료 분야 : 금속 및 세라믹의 표면 관찰 및 성분 분석, 결정 분포 측정
    - 화학 분야 : 고분자의 형태와 크기, 표면 형상 관찰
    TEM
    (Field Emission Transmission Electron Microscope)
    생태학, 생물학, 의한, 면역학, 고분자시료 및 시료의 단면 초미세구조, 생물시료의 미세 세포 측정
    FIB
    (Focused Ion Beam)
    - 각종 재료물질의 단면층 시편제작(Cross-section) 및 이미지 관찰, 조성성분 분석
    - 각종 시편의 표면연마 및 EDS에 의한 조성성분 분석(정성, 정량분석)
    전자 현미경 분류 Chiller 적용 이미지
    전자 현미경 분류
    Chiller 적용 이미지
    전자현미경에서 Chiller 필요성 or Solution

    전자현미경에서 발생시키기 위하여 공급되는 전기에너지를 Sourece로 완전한 변환은 불가능하며 변환과정에서 많은 양의 열에너지로 변환되며 이 열에너지를 해소시키지 못할 경우 내부의 부품들의 파손 및 정상적인 측정이 불가능하며 열에너지를 해소하기 위한 Chiller가 필요하다.
    Chiller를 설치하여 내부 온도 안정성을 높여 분석 효율 및 화합물의 결정구조 변경이 안되게 온도 정밀도가 필요하며 이 때 Chiller를 이용하여 온도 안정성을 유지 시킨다.

    분석기기는 연구실, 실험실과 같은 사무공간에서 주로 사용 되므로 Chiller의 소음 및 진동을 외부화하게 분리형 타입의 Chiller를 적용하여 분석기기에 영향을 최소화 하여야 한다.
    Chiller의 분리형 타입으로 적용 시에도 온도 안정성을 높이기 위하여 Electric Expansion Valve를 적용하여 온도 안정성 및 Chiller의 소음 및 진동 문제를 해소할 수 있다.

    전자현미경 대응 Chiller Model
    SEM DS-2
    DS-3
    DS-5
    FIB DS-5
    TEM DX-20 DW-20
    DX-30 DW-30
    전자현미경 대응 Chiller Model
    SEM DS-2
    DS-3
    DS-5
    FIB DS-5
    TEM DX-20 DW-20
    DX-30 DW-30